溫度試驗(yàn)
溫度試驗(yàn)
我國(guó)地域廣大，決定了我們的電子元器件被使用的地域范圍很廣。寬廣的地域溫度 及溫度變化的差別大，因此必須進(jìn)行電子元器件的溫度試驗(yàn)。根據(jù)溫度環(huán)境的不同，溫度 試驗(yàn)包括高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)、熱循環(huán)試驗(yàn)、熱沖擊試驗(yàn)和熱性能試驗(yàn)等五種。
1.低溫試驗(yàn)
根據(jù)氣象記載，我國(guó)極端的氣溫或地溫低于一55°C的幾乎沒(méi)有。故無(wú)論使用、運(yùn) 輸或儲(chǔ)存，一55t：已能滿(mǎn)足要求了。當(dāng)然還需要考慮到一些特殊環(huán)境及我國(guó)的電子產(chǎn)品 不局限于在國(guó)內(nèi)陸地上使用。
低溫試驗(yàn)的原理及程序如下。
試驗(yàn)?zāi)康?br /> 低溫試驗(yàn)的目的是考核低溫對(duì)電子元器件的影響，確定電子元器件在低溫條件下工 作和儲(chǔ)存的適應(yīng)性。例如，半導(dǎo)體器件在低溫條件下能否正常工作,在低溫作用后是否有 機(jī)械損傷和電參數(shù)變化的情況,以及在低溫儲(chǔ)存的條件下,保持性能的能力等。
試驗(yàn)原理
低溫下會(huì)使電子元器件的電參數(shù)發(fā)生變化、材料變脆及零件材料冷縮產(chǎn)生應(yīng)力等。使電子元器件處于低溫環(huán)境下一定時(shí)間,考核電子元器件的電參數(shù)是否發(fā)生變化、材料是否變脆、零件材料冷縮產(chǎn)生應(yīng)力有多大等，從而確定電子元器件的抗低溫能力。
試驗(yàn)設(shè)備
試驗(yàn)設(shè)備主要有低溫箱(低溫室)和溫度計(jì)。低溫箱或低溫室提供一定的低溫場(chǎng)所 (環(huán)境）;溫度計(jì)用于測(cè)量和監(jiān)控試驗(yàn)溫度。試驗(yàn)設(shè)備還要有測(cè)量電性能參數(shù)的電測(cè)量系
(4)試驗(yàn)程序和方法
①初始測(cè)量：將試驗(yàn)樣品放置在正常大氣條件下，使之達(dá)到溫度穩(wěn)定。然后按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定對(duì)試樣進(jìn)行電性能、機(jī)械性能及外觀檢查。
②試驗(yàn)：按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,選定試驗(yàn)的低溫等級(jí)，確定低溫溫度及低溫作用時(shí)間，采用下述方法之一進(jìn)行試驗(yàn)。
③帶溫度沖擊的試驗(yàn)：先將低溫箱溫度調(diào)到規(guī)定值，再將試驗(yàn)樣品放入箱內(nèi)；試驗(yàn)時(shí)間從箱溫恢復(fù)到規(guī)定值時(shí)算起。
④不帶溫度沖擊的試驗(yàn)：先將試樣放人箱內(nèi)，再把箱溫調(diào)到規(guī)定值;試驗(yàn)時(shí)間從箱 溫達(dá)到規(guī)定值時(shí)算起。
⑤試驗(yàn)過(guò)程中是否加負(fù)荷：按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定進(jìn)行。
⑥中間測(cè)量：當(dāng)試樣處于低溫時(shí)，按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定對(duì)其試樣進(jìn)行電性能、機(jī)械性能 及外觀檢查。
0恢復(fù)：試驗(yàn)結(jié)束后，將試樣從箱內(nèi)取出。在正常大氣條件下恢復(fù)到冰融解后，抹 去或甩掉試樣上的水滴，然后再恢復(fù)12小時(shí)。
⑧最后測(cè)量：按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，對(duì)試樣進(jìn)行電性能、機(jī)械性能及外觀檢查。
例如，半導(dǎo)體集成電路總技術(shù)條件中規(guī)定，將一、二類(lèi)電路分別放在低溫箱中,一類(lèi)產(chǎn) 品的試驗(yàn)溫度為(一55士3)t：,二類(lèi)產(chǎn)品的試驗(yàn)溫度為（一40士3)C,恒溫時(shí)間為30分鐘。 在低溫下測(cè)量電參數(shù)，應(yīng)符合產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。
應(yīng)注意的是在低溫試驗(yàn)中，常因夾具結(jié)冰引起器件外引線(xiàn)與夾具接觸不良，或結(jié)冰漏 電。遇到這種情況，應(yīng)該反復(fù)檢查夾具，使接觸良好,消除結(jié)冰漏電之后,方能測(cè)量電參 數(shù)，否則測(cè)量結(jié)果不準(zhǔn)確。
2.髙溫試驗(yàn)
高溫試驗(yàn)簡(jiǎn)便、經(jīng)濟(jì)，同時(shí)對(duì)穩(wěn)定器件的電性能有良好的影響。它是有效的篩選手段 之一，所以國(guó)內(nèi)外都樂(lè)于采用。但是,選擇怎樣的試驗(yàn)條件才能達(dá)到預(yù)期的效果，這是需 要好好研究的。
我國(guó)地域廣大，決定了我們的電子元器件被使用的地域范圍很廣。寬廣的地域溫度 及溫度變化的差別大，因此必須進(jìn)行電子元器件的溫度試驗(yàn)。根據(jù)溫度環(huán)境的不同，溫度 試驗(yàn)包括高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)、熱循環(huán)試驗(yàn)、熱沖擊試驗(yàn)和熱性能試驗(yàn)等五種。
1.低溫試驗(yàn)
根據(jù)氣象記載，我國(guó)極端的氣溫或地溫低于一55°C的幾乎沒(méi)有。故無(wú)論使用、運(yùn) 輸或儲(chǔ)存，一55t：已能滿(mǎn)足要求了。當(dāng)然還需要考慮到一些特殊環(huán)境及我國(guó)的電子產(chǎn)品 不局限于在國(guó)內(nèi)陸地上使用。
低溫試驗(yàn)的原理及程序如下。
試驗(yàn)?zāi)康?br /> 低溫試驗(yàn)的目的是考核低溫對(duì)電子元器件的影響，確定電子元器件在低溫條件下工 作和儲(chǔ)存的適應(yīng)性。例如，半導(dǎo)體器件在低溫條件下能否正常工作,在低溫作用后是否有 機(jī)械損傷和電參數(shù)變化的情況,以及在低溫儲(chǔ)存的條件下,保持性能的能力等。
試驗(yàn)原理
低溫下會(huì)使電子元器件的電參數(shù)發(fā)生變化、材料變脆及零件材料冷縮產(chǎn)生應(yīng)力等。使電子元器件處于低溫環(huán)境下一定時(shí)間,考核電子元器件的電參數(shù)是否發(fā)生變化、材料是否變脆、零件材料冷縮產(chǎn)生應(yīng)力有多大等，從而確定電子元器件的抗低溫能力。
試驗(yàn)設(shè)備
試驗(yàn)設(shè)備主要有低溫箱(低溫室)和溫度計(jì)。低溫箱或低溫室提供一定的低溫場(chǎng)所 (環(huán)境）;溫度計(jì)用于測(cè)量和監(jiān)控試驗(yàn)溫度。試驗(yàn)設(shè)備還要有測(cè)量電性能參數(shù)的電測(cè)量系
(4)試驗(yàn)程序和方法
①初始測(cè)量：將試驗(yàn)樣品放置在正常大氣條件下，使之達(dá)到溫度穩(wěn)定。然后按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定對(duì)試樣進(jìn)行電性能、機(jī)械性能及外觀檢查。
②試驗(yàn)：按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,選定試驗(yàn)的低溫等級(jí)，確定低溫溫度及低溫作用時(shí)間，采用下述方法之一進(jìn)行試驗(yàn)。
③帶溫度沖擊的試驗(yàn)：先將低溫箱溫度調(diào)到規(guī)定值，再將試驗(yàn)樣品放入箱內(nèi)；試驗(yàn)時(shí)間從箱溫恢復(fù)到規(guī)定值時(shí)算起。
④不帶溫度沖擊的試驗(yàn)：先將試樣放人箱內(nèi)，再把箱溫調(diào)到規(guī)定值;試驗(yàn)時(shí)間從箱 溫達(dá)到規(guī)定值時(shí)算起。
⑤試驗(yàn)過(guò)程中是否加負(fù)荷：按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定進(jìn)行。
⑥中間測(cè)量：當(dāng)試樣處于低溫時(shí)，按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定對(duì)其試樣進(jìn)行電性能、機(jī)械性能 及外觀檢查。
0恢復(fù)：試驗(yàn)結(jié)束后，將試樣從箱內(nèi)取出。在正常大氣條件下恢復(fù)到冰融解后，抹 去或甩掉試樣上的水滴，然后再恢復(fù)12小時(shí)。
⑧最后測(cè)量：按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，對(duì)試樣進(jìn)行電性能、機(jī)械性能及外觀檢查。
例如，半導(dǎo)體集成電路總技術(shù)條件中規(guī)定，將一、二類(lèi)電路分別放在低溫箱中,一類(lèi)產(chǎn) 品的試驗(yàn)溫度為(一55士3)t：,二類(lèi)產(chǎn)品的試驗(yàn)溫度為（一40士3)C,恒溫時(shí)間為30分鐘。 在低溫下測(cè)量電參數(shù)，應(yīng)符合產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。
應(yīng)注意的是在低溫試驗(yàn)中，常因夾具結(jié)冰引起器件外引線(xiàn)與夾具接觸不良，或結(jié)冰漏 電。遇到這種情況，應(yīng)該反復(fù)檢查夾具，使接觸良好,消除結(jié)冰漏電之后,方能測(cè)量電參 數(shù)，否則測(cè)量結(jié)果不準(zhǔn)確。
2.髙溫試驗(yàn)
高溫試驗(yàn)簡(jiǎn)便、經(jīng)濟(jì)，同時(shí)對(duì)穩(wěn)定器件的電性能有良好的影響。它是有效的篩選手段 之一，所以國(guó)內(nèi)外都樂(lè)于采用。但是,選擇怎樣的試驗(yàn)條件才能達(dá)到預(yù)期的效果，這是需 要好好研究的。
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